X射線熒光顯微鏡XROS MF30
X射線熒光（X-ray fluorescence，XRF）是用高能量X射線或伽瑪射線轟擊材料時激發(fā)出的次級X射線，是一種快速的、非破壞式的物質(zhì)測量方法。X射線熒光技術(shù)可以檢測植物體內(nèi)大部分元素的分布信息，植物體內(nèi)某些礦質(zhì)營養(yǎng)元素的組織分布可以反映元素的運輸和利用特點。X射線熒光顯微鏡XROS MF30可作為研究植物體內(nèi)微量元素的分布和遷移特點的重要工具。測量原理試樣受X射線照射后，其中各元素原子的內(nèi)殼層 ，其中各元素原...
